單層柱狀等離子體陣列對微波透射衰減影響的實驗研究
利用矢量網(wǎng)絡(luò)微波測試系統(tǒng)測量了單層柱狀等離子體陣列對2~18GHz微波的透射衰減,分析了微波極化方向、等離子體密度、陣列中的單元間距等因素對微波衰減的影響。結(jié)果表明,該結(jié)構(gòu)對TM波的衰減大于對TE波的衰減;對TM波的作用頻段約為2~10GHz,而對TE波僅為2~7GHz;在作用頻段內(nèi),增大電子密度、減小單元間距均可以在整體上改善對微波的透射衰減。
等離子體對微波的傳輸會產(chǎn)生一定的影響,而等離子體及其參數(shù)的空間分布是決定影響大小的重要因素。在通過實驗方法研究等離子體對微波傳輸?shù)挠绊憰r,往往由于所產(chǎn)生的等離子體的空間分布無法控制,而導(dǎo)致無法系統(tǒng)地開展這項研究。
本文采用多個圓柱形腔體來約束等離子體,可以很方便地控制等離子體的參數(shù),并通過對腔體適當(dāng)?shù)呐帕薪M合控制等離子體在空間的分布。論文首先交代了所采用的單個柱狀等離子體的參數(shù)特征,然后通過矢量網(wǎng)絡(luò)微波測試系統(tǒng)測量了單層等離子體陣列對微波的透射衰減,分析了微波極化方向、等離子體密度、陣列中的單元間距等各種因素對微波衰減的影響。
1、放電單元特征及實驗圖示
本文采用圓柱形放電腔通過高頻放電產(chǎn)生柱狀等離子體。為保證測量得到穩(wěn)定的透射衰減曲線,放電單元產(chǎn)生的等離子體要具有良好的穩(wěn)定性。通過實驗分析,采用直徑d=2.5cm、長度l=60cm、填充某混合氣體且氣壓為p的放電管,在現(xiàn)有實驗條件下,當(dāng)放電管兩端加上高頻交流電壓,且放電頻率為f時,其腔體產(chǎn)生的等離子體具有很好的穩(wěn)定性,其中放電管放電回路外加交流200V電壓,高頻放電頻率在千赫茲量級。采用等離子體雙頻點診斷理論得到其產(chǎn)生的等離子體電子密度在1017m-3、碰撞頻率在109Hz數(shù)量級上。
將放電單元并行排列可形成單層等離子體陳列,其透射衰減測量實驗裝置如圖1所示,圖中,喇叭天線對準等離子體柱陣列中間位置。實驗測量的微波頻率范圍為2~18GHz,具體采用了兩對喇叭天線,其測量頻率范圍分別在2~18GHz和8~18GHz,測量得到的透射衰減數(shù)據(jù)為矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的S21參數(shù)。
利用上述矢量網(wǎng)絡(luò)微波測試系統(tǒng)可以測量單層等離子體陣列在不同條件下對微波的衰減情況,下面分別從入射波的極化方向、等離子體電子密度Ne、等離子體間距三個角度分析實驗結(jié)果。
圖1單層等離子體柱陣列透射衰減測量系統(tǒng)
2、實驗結(jié)果分析
2.1、極化方向的影響
圖2為TM、TE波穿過單層等離子體柱陣列的透射衰減隨入射波頻率的變化曲線。兩種極化波極化方向如圖1所示。從圖2中可以看出,單層等離子體柱陣列對TM波的衰減明顯大于對TE波的衰減,特別在圖2(b)中313GHz處相差近5dB;陣列結(jié)構(gòu)在對入射波頻率大于7GHz時對TE波已基本沒有衰減,而對于TM波則明顯超過此頻點;同時,對比圖2(a)、(b);等離子體柱間距從0cm增大到2.5cm時,衰減整體減小,TE波的衰減作用頻段明顯向低頻移動。
這里,等離子體對TM波衰減較大,可能是因為存在線性模轉(zhuǎn)換共振吸收造成的。因為,對于單根等離子體柱,其本身的密度沿徑向呈一階貝塞爾函數(shù)分布,即在徑向上呈現(xiàn)梯度分布,從而導(dǎo)致單層圓柱等離子體陣列在徑向上的電子密度呈現(xiàn)周期性變化,這樣,由于TM波中的E矢量平行等離子體柱徑向,即平行于密度梯度,從而符合線性模轉(zhuǎn)換共振吸收的條件。
圖2 單層等離子體柱陣列對不同極化波的透射衰減
2.2、電子密度的影響
圖3為等離子體電子密度分別為1×1017,2×1017m-3時TM波的透射衰減隨入射波頻率的變化曲線,圖中,電子密度Ne的標注省略單位(m-3)。從圖中可以看出,等離子體電子密度增大,透射衰減整體增大,且在2~10GHz基本都有2~4dB的衰減增加;從圖3(a)、(b)可以明顯看出,密度增大,衰減峰值略向高頻移動。從圖3(b)可以看出,當(dāng)頻率高于10GHz時,等離子體柱陣列對TM波基本沒有衰減作用,即使增大電子密度也沒有多少改善。因而,單層等離子體柱陣列對TM波的作用頻段基本在2~10GHz,在此頻段,可以通過調(diào)節(jié)電子密度改變柱陣列對電磁波的透射衰減。
圖3 單層等離子體柱陣列不同電子密度時的透射衰減
增大電子密度會增大對入射波的透射衰減,這在理論上可解釋如下:電子密度增大,等離子體對入射能量的反射和吸收均會增強,相應(yīng)地,透射能量減小,因而,透射衰減效果得到改善。
2.3、柱間距的影響
圖4為等離子體柱間距分別為0,2.5cm時對TM波的透射衰減隨入射波頻率的變化曲線。從圖中可以看出,在2~10GHz頻率范圍內(nèi),隨等離子體柱間距增大,透射衰減曲線整體上升,衰減減小,在圖4(c)、(d)中可以看出,衰減峰值位置略向低頻移動。同時,由圖可以看出,當(dāng)頻率大于10GHz時,等離子體柱陣列幾乎沒有衰減作用,間距改變幾乎沒有影響。間距變化對透射衰減的影響可理解為:當(dāng)間距增大,等離子體對入射能量的反射和吸收減少,透射能量增大,因而在曲線表現(xiàn)出衰減曲線的整體上移。
圖4 單層等離子體柱陣列不同間距時的透射衰減
3、結(jié)論
綜合以上實驗結(jié)果,可以得到以下結(jié)論:
(1)單層等離子體柱陣列對TM波的透射衰減大于TE波,且對TM波的作用頻段在2~10GHz,而對TE波的作用頻段僅為2~7GHz。
(2)在單層陣列結(jié)構(gòu)對微波的作用頻段內(nèi),調(diào)節(jié)電子密度可以改變等離子體陣列對微波的透射衰減,且電子密度增大時衰減峰值略向高頻移動。
(3)在單層陣列結(jié)構(gòu)對微波的作用頻段內(nèi),隨著單元間距的增大,透射衰減是整體減小的,且衰減峰值位置向低頻移動,即間距的增大不利于透射衰減。
以上結(jié)論為進一步研究圓柱等離子體陣列的微波傳輸特性奠定的基礎(chǔ),下一步將開展研究多層陣列結(jié)構(gòu)對微波透射衰減傳輸特性的影響以及陳列結(jié)構(gòu)遮蔽目標時對微波回波傳輸特性的影響。