柱狀等離子體微波透射衰減數(shù)據(jù)的測(cè)量及其應(yīng)用

2014-03-17 程 立 脈沖功率激光技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室電子工程學(xué)院

  微波透射衰減數(shù)據(jù)是研究等離子體與微波相互作用時(shí)的重要實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),本文針對(duì)柱狀等離子體,分析了準(zhǔn)確測(cè)量其微波透射衰減所應(yīng)滿足的三個(gè)條件:等離子體等厚、入射波遠(yuǎn)場(chǎng)、等離子體反射可忽略;并設(shè)計(jì)了滿足上述條件的測(cè)量實(shí)驗(yàn)。除直接用于分析等離子體參數(shù)對(duì)微波傳輸?shù)挠绊懲,本文提出了該?shù)據(jù)的另外兩種用途:診斷等離子體參數(shù)、判定等離子體穩(wěn)定性。

  等離子體隱身技術(shù)作為一種新概念的隱身技術(shù),受到世界廣泛關(guān)注,等離子體與微波相互作用的理論與實(shí)驗(yàn)研究是其中一個(gè)重要的方面,而微波穿透等離子體時(shí)的透射衰減數(shù)據(jù)則是實(shí)驗(yàn)研究中的一個(gè)重要實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。柱狀等離子體是受柱狀放電腔約束而形成的等離子體,其通過組合可形成類等離子體平板層的結(jié)構(gòu),文獻(xiàn)通過從理論角度仿真分析了該平板層結(jié)構(gòu)用于目標(biāo)隱身的可行性,透射衰減數(shù)據(jù)則是后續(xù)實(shí)驗(yàn)研究其與微波相互作用的重要依據(jù)。文獻(xiàn)給出了測(cè)量透射衰減的一般過程,并沒有明確給出準(zhǔn)確測(cè)量所需滿足的條件,其得到的測(cè)量結(jié)果只是一個(gè)粗略的結(jié)果;再者由于柱狀等離子體表面存在曲率,其對(duì)入射的微波有發(fā)散作用,若僅是簡(jiǎn)單依據(jù)文獻(xiàn)給出的實(shí)驗(yàn)過程,其透射衰減測(cè)量結(jié)果將更偏離準(zhǔn)確值,從而無法實(shí)現(xiàn)透射衰減的準(zhǔn)確測(cè)量。

  本文針對(duì)文獻(xiàn)在測(cè)量柱狀等離子體微波透射衰減時(shí)的不足,通過分析等離子體微波透射衰減測(cè)量原理圖,首先提出了實(shí)現(xiàn)單根柱狀等離子體透射衰減準(zhǔn)確測(cè)量所必須滿足的三個(gè)條件,然后合理設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)使其滿足上述條件,實(shí)現(xiàn)了柱狀等離子體透射衰減的準(zhǔn)確測(cè)量,最后提出該透射衰減數(shù)據(jù)的三種用途。

  1、透射衰減準(zhǔn)確測(cè)量的條件及其說現(xiàn)

  等離子體微波透射衰減測(cè)量實(shí)驗(yàn)原理圖如圖1所示,假定平面波垂直入射等離子體表面并能夠全部進(jìn)入,而不引起反射,則可通過測(cè)量產(chǎn)生等離子體前后的S210和S21,進(jìn)行相減處理即可得到微波透射衰減SdB。

等離子體微波透射衰減測(cè)量原理圖

圖1 等離子體微波透射衰減測(cè)量原理圖

  通過分析原理圖,總結(jié)得到若要實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)量,實(shí)驗(yàn)必須滿足以下三個(gè)條件:

  (1)等離子體的等厚條件。等離子體等厚時(shí),等離子體表面法向與入射波方向一致,這樣可使入射的平面電磁波不會(huì)因等離子體表面的不規(guī)則散射而改變傳播方向,從而無法被喇叭接收到,導(dǎo)致測(cè)量誤差。

  (2)入射波的遠(yuǎn)場(chǎng)條件。由于實(shí)際實(shí)驗(yàn)中使用的是矩形喇叭天線,其發(fā)射波為介于柱面波與球面波之間,只有在滿足遠(yuǎn)場(chǎng)條件時(shí)才可近似認(rèn)為是平面波。

  (3)等離子體反射可忽略的條件。在理論分析中,假定了電磁波可完全進(jìn)入等離子體,不引起反射,從而才可以認(rèn)為產(chǎn)生等離子體前后測(cè)量的透射功率的差值即等離子體而造成的透射衰減。

  下面分別分析如何設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)滿足上述測(cè)量條件。

  (1)等離子體的等厚條件

  實(shí)驗(yàn)中選擇使用兩塊金屬板在柱狀放電腔兩側(cè)進(jìn)行遮擋,僅留出約2~3cm的距離(根據(jù)等離子體柱的直徑大小)供電磁波穿過,如圖2所示。

金屬鋁板置位示意圖

圖2 金屬鋁板置位示意圖

  這里,使用金屬平板可以起到兩方面的作用。一方面,使得微波沒有穿過等離子體的部分不能進(jìn)入接收喇叭,從而不會(huì)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生影響;另一方面,金屬平板從兩側(cè)遮擋住部分等離子體柱,盡可能的減弱了圓柱曲面的影響,使電磁波在等離子體中的透過距離相等,從而使得電磁波穿透過的等離子體盡可能的滿足等厚條件。

  結(jié)論

  通過分析,本文得到了實(shí)現(xiàn)透射衰減準(zhǔn)確測(cè)量必須滿足的三個(gè)條件:等離子體的等厚條件、入射波的遠(yuǎn)場(chǎng)條件和等離子體反射可忽略的條件,依據(jù)上述條件設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)了對(duì)柱狀等離子體透射衰減的準(zhǔn)確測(cè)量;除用于分析等離子體對(duì)微波傳輸?shù)挠绊懲,本文提出了透射衰減數(shù)據(jù)的另外兩種用途:診斷等離子體參數(shù)、判定等離子體狀態(tài)的穩(wěn)定性。

  利用本文的測(cè)量實(shí)驗(yàn),可以為采用雙頻點(diǎn)微波透射衰減診斷法實(shí)現(xiàn)等離子體參數(shù)的準(zhǔn)確診斷以及分析外界因素對(duì)等離子體狀態(tài)穩(wěn)定性的影響提供可靠的原始數(shù)據(jù)。