壓力變化檢漏方法是利用被檢測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部密閉容器壓力變化實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率測(cè)量。一般漏率計(jì)算公式如下:

　　Q = ΔP·V /Δt ( 1)

　　式中Q 為被檢測(cè)產(chǎn)品總漏率，Pa·m³ /s; ΔP 為測(cè)量時(shí)間間隔內(nèi)的密封容器壓力變化量，Pa; V 為被測(cè)產(chǎn)品密閉容器容積，m³ ; Δt 為測(cè)量時(shí)間間隔，s。

　　一般情況下，按照壓力增大或減小的狀態(tài)可以將壓力變化法分為靜態(tài)升壓法和靜態(tài)降壓法，如果測(cè)量間隔時(shí)間前的壓力小于測(cè)量間隔時(shí)間后的壓力，則稱之為靜態(tài)升壓法，反之則稱之為靜態(tài)降壓法。

　　按照所選用壓力測(cè)量傳感器的不同，真空技術(shù)網(wǎng)(www.lalazzu.cn)將壓力變化法分為絕對(duì)壓力變化法、差壓力變化法和真空壓力變化法。

絕對(duì)壓力變化檢漏法

　　絕對(duì)壓力變化法是采用絕對(duì)壓力傳感器實(shí)現(xiàn)被檢測(cè)產(chǎn)品密閉容器內(nèi)的壓力測(cè)量，對(duì)于真空密閉容器來說，停止抽空后通過測(cè)量某一間隔時(shí)間段內(nèi)壓力上升值，實(shí)現(xiàn)被測(cè)產(chǎn)品總漏率測(cè)量，對(duì)于帶壓容器來說，通過測(cè)量充氣后某一間隔時(shí)間段內(nèi)壓力下降值，實(shí)現(xiàn)被測(cè)產(chǎn)品總漏率測(cè)量。

　　絕對(duì)壓力變化法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量方法簡(jiǎn)單，操作方便。絕對(duì)壓力變化法的缺點(diǎn)是被測(cè)容器內(nèi)壓力受溫度影響大，當(dāng)需要精確測(cè)量漏率時(shí)，必須對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行溫度修正，但是對(duì)于不同結(jié)構(gòu)的被檢件，壓力隨溫度變化規(guī)律也不完全一樣，需要通過大量的實(shí)驗(yàn)來確定修正方法。

　　絕對(duì)壓力變化法一般應(yīng)用于真空系統(tǒng)研制過程的定量檢漏工作，某些特殊場(chǎng)合的在線泄漏檢測(cè)，例如神舟飛船艙門密封性能的在軌檢測(cè)工作就是采用絕對(duì)壓力變化法的原理實(shí)現(xiàn)的。

差壓力變化檢漏法

　　差壓力變化法是采用差壓傳感器實(shí)現(xiàn)被檢測(cè)產(chǎn)品密閉容器內(nèi)的壓力測(cè)量，差壓傳感器的兩端分別連接被測(cè)容器和基準(zhǔn)容器，其中基準(zhǔn)容器是一個(gè)相對(duì)被檢件來說是無泄漏存在的密閉容器，測(cè)量前向被測(cè)容器和基準(zhǔn)容器同時(shí)充入相同壓力的氣體，經(jīng)過一定時(shí)間間隔后，如果被測(cè)容器有漏孔存在，會(huì)導(dǎo)致被測(cè)容器的壓力發(fā)生變化，而基準(zhǔn)容器壓力不會(huì)發(fā)生變化，差壓傳感器會(huì)給出了這一微小壓力變化量，從而實(shí)現(xiàn)漏率測(cè)量。

圖1 差壓力變化法檢漏原理圖

　　差壓力變化法的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)靈敏度高，可以克服溫度變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。差壓力變化法的缺點(diǎn)是結(jié)構(gòu)復(fù)雜，需要專用的測(cè)量系統(tǒng)才能實(shí)現(xiàn)。這里需要說明，基準(zhǔn)密閉容器的容積材料需要與被測(cè)對(duì)象的容積應(yīng)盡量一致或接近，以減小測(cè)量不確定度。

　　差壓力變化法一般應(yīng)用于批量化小型產(chǎn)品的檢漏工作。

真空壓力變化檢漏法

　　真空壓力變化法是利用真空抽氣原理實(shí)現(xiàn)雙道密封結(jié)構(gòu)的泄漏檢測(cè)工作。雙道密封結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示，其工作過程中，存在兩個(gè)泄漏通道，一個(gè)是被檢件外的大氣環(huán)境向密封腔體內(nèi)泄漏，一個(gè)是密封腔體向被檢件內(nèi)的真空環(huán)境泄漏，密封腔體內(nèi)壓力變化可以用公式( 2) 表示。通過求解公式( 2) 表示的微分方程可以獲得密封腔體內(nèi)的壓力變化與兩道密封圈漏率間的關(guān)系，從而實(shí)現(xiàn)漏率測(cè)量。

　　V dPt/dt = Q1 - Q2( 2)

　　式中Pt為密封腔體內(nèi)的瞬時(shí)壓力，Pa; t 為測(cè)量時(shí)間，s ; V 為雙道密封腔體容積，m³ ; Q1為密封圈1 的泄漏率，Pa·m³ /s; Q2為密封圈2 的泄漏率，Pa·m³ /s。

圖2 雙道密封結(jié)構(gòu)泄漏示意圖

　　真空壓力變化法的優(yōu)點(diǎn)是能準(zhǔn)確分辨出雙道密封結(jié)構(gòu)的哪一個(gè)密封圈發(fā)生泄漏，從而為堵漏工作提供指導(dǎo)。真空壓力變化法的缺點(diǎn)是兩道密封圈的漏率相等時(shí)，密封腔體內(nèi)壓力不會(huì)發(fā)生變化，無法通過壓力變化法實(shí)現(xiàn)漏率測(cè)量。

　　真空壓力變化法適用于雙道密封結(jié)構(gòu)的長(zhǎng)期在線密封泄漏監(jiān)測(cè)，例如空間站主結(jié)構(gòu)靜密封泄漏監(jiān)測(cè)工作。